Spectromètre d’émission optique à plasma à couplage inductif à spectre complet à lecture directe ICP-7760HP

EXW
$0.15-0.30 /套
Chine
N°3, route Shangyuan, zone de développement économique de Shilong, district de Mentougou, Beijing
010-88393500
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Présentation

Tous les éléments de l'échantillon sont acquis simultanément sur l'ensemble du spectre. La technologie de dispersion bidimensionnelle à échelle intermédiaire réduit les erreurs dues aux interférences spectrales, répondant aux besoins d'analyse d'échantillons complexes variés. L'utilisation d'un CCD scientifique à million de pixels anti-saturation améliore la précision des données qualitatives et quantitatives, et cette conception permet d'augmenter efficacement le rapport signal/bruit dans l'analyse de traces, réduisant considérablement la limite de détection.

Paramètres techniques

    Analyse qualitative d'échantillons inconnus sans nécessiter de solutions étalons ni d'établir de méthode ;

    Détection de tous les éléments dans des échantillons inconnus même avec une quantité d'échantillon limitée ;

    Réduction du temps d'analyse, diminution de la consommation d'argon et réduction des coûts de fonctionnement ;

    Possibilité d'acquérir le spectre de l'échantillon puis d'ajouter ultérieurement des éléments à analyser ;

    Acquisition simultanée du signal de fond et du signal spectral de l'élément à analyser, améliorant la précision de l'analyse ;

    Optimisation rapide de la position de la source et de la hauteur d'observation par commande motorisée, pour obtenir un signal spectral intense ;

    Optimisation rapide des paramètres instrumentaux et analytiques grâce à la surveillance en temps réel du signal spectral.