fr.wedoany.com Rapport : Sony Semiconductor Solutions Corporation a annoncé le lancement prochain, la production en série et l’expédition du capteur d’image CMOS à rayons X à intégration de charge directe IMX711.
Ce capteur peut détecter directement les rayons X et produire un signal proportionnel à l’énergie, ce qui le rend adapté aux instruments d’inspection et de mesure. Grâce à la technologie de circuit propriétaire de Sony, l’IMX711 atteint la cadence maximale la plus rapide du secteur parmi les capteurs d’image CMOS à rayons X à intégration de charge, soit 26 100 images par seconde (selon la méthode de spécification des pixels effectifs du capteur d’image), et garantit des mesures précises en supprimant la saturation de charge. Sa réduction significative du bruit améliore la précision de détection des signaux dans des conditions de faible flux et facilite la distinction des différences d’énergie des photons. Ce nouveau produit permet, sur un seul capteur, à la fois une mesure de haute précision de l’énergie intégrée des rayons X sur une large plage dynamique et l’acquisition d’informations énergétiques au niveau du photon, ce qui était difficile à réaliser avec les capteurs traditionnels. Il devrait ainsi favoriser les progrès dans l’inspection et la mesure par rayons X, depuis le contrôle des dispositifs de pointe jusqu’aux mesures scientifiques.
Le produit améliore les caractéristiques de saturation par rapport aux capteurs traditionnels en réduisant la charge accumulée par image. Par ailleurs, le bruit aléatoire est réduit à 34 e-rms (calculé sur la base de la moyenne des pixels dans la zone effective du capteur, avec une valeur garantie de 60 e-rms à une température ambiante inférieure ou égale à 20 °C), ce qui permet aux signaux de rayons X faibles de ne pas être noyés dans le bruit. Cela améliore la précision des mesures dans des conditions de faible flux et permet une détection au niveau du photon. Ces caractéristiques permettent au capteur de mesurer avec précision l’énergie intégrée des rayons X sur tous les pixels, dans des conditions allant du faible au fort flux, prenant en charge des inspections et mesures présentant des différences de luminosité significatives sur un seul capteur, contribuant ainsi à augmenter le débit des dispositifs et à étendre la plage dynamique.
L’IMX711 utilise une méthode d’intégration de charge qui permet d’obtenir des informations sur l’énergie des photons sans avoir à prédéfinir un seuil. Le bruit et les variations de signal sont supprimés lors de la lecture, ce qui permet une résolution énergétique élevée et une identification claire des différences d’énergie des photons. Cette caractéristique contribue à simplifier et à améliorer la précision des inspections et mesures avancées, telles que la détection des différences de composition au niveau des éléments, ainsi que l’analyse structurelle et matérielle pour évaluer quantitativement les changements d’état minimes — des applications qui nécessitaient auparavant plusieurs mesures. De plus, ce capteur prend en charge le post-traitement dans diverses conditions, comme la collecte des données de mesure de tous les pixels, la combinaison avec des informations spatiales et l’extraction de données énergétiques spécifiques, permettant ainsi des inspections et mesures polyvalentes.
L’IMX711 a été développé en collaboration entre Sony Semiconductor Solutions Corporation et RIKEN. En s’appuyant sur la structure de pixel inventée par le Dr Takashi Hatsui, les deux parties ont conjointement développé des technologies de mise en œuvre pratique, notamment l’amélioration de la sensibilité, l’obtention d’une haute résistance aux rayons X et d’une haute tension de claquage. Sony a quant à lui développé les technologies de circuit, de fabrication et d’encapsulation nécessaires à la production en série.
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