fr.wedoany.com Rapport : VIEW Micro Metrology mène une série d'études de mesure internes et pilotées par les clients dans ses laboratoires systèmes aux États-Unis et en Asie, les équipes d'ingénierie applicative étant en phase de recherche.
Le laboratoire d'évaluation des systèmes VIEW Micro Metrology, situé à Rochester, dans l'État de New York, est équipé d'une gamme complète d'outils de métrologie dimensionnelle VIEW. Cette installation soutient les travaux de développement internes et les applications clients réelles, fournissant une validation technique et une optimisation des processus pour l'encapsulation avancée des semi-conducteurs et d'autres environnements de fabrication.
Une étude clé se concentre sur le débit de mesure des puces à matrice de billes (BGA) sur des tranches de 200 mm. Chaque tranche contient environ 1 300 puces, chaque puce comportant 110 billes de soudure. L'objectif de cette étude est d'évaluer l'efficacité de mesure et la qualité des données dans des scénarios d'inspection à haut volume, en mettant l'accent sur : la comparaison des temps de cycle entre les recettes stroboscopiques « déplacer et mesurer » (MAM) et « capture d'image continue » (CiC™) pour la taille des billes individuelles ; la détection des défauts de position des billes sur la tranche ; l'analyse comparative des mesures de hauteur Z des billes à l'aide du laser à travers l'objectif (TTL) et de l'imagerie 3D à zone multifocale (AMF™) ; ainsi que l'évaluation de la répétabilité sur 25 tranches d'un même lot. Les résultats de l'étude devraient être publiés à la fin de l'été.
Outre les recherches au niveau des tranches, le laboratoire participe également à un projet de plaque de distribution de gaz, un composant utilisé dans le processus de dépôt sur tranche, semblable à une « pomme de douche » pour semi-conducteurs. Un composant similaire destiné au secteur aérospatial est également à l'étude. Les diamètres des trous traversants de la plaque de distribution de gaz sont généralement supérieurs à 250 µm, ce qui se situe dans les capacités du système de mesure VIEW, mais le défi de l'inspection provient des exigences d'uniformité des caractéristiques, de précision de la position réelle et de l'espacement, de la topologie de surface et de la précision de la position globale. La détection des défauts est également nécessaire, notamment l'identification des trous obstrués ou partiellement obstrués, des microfissures, des piqûres, de l'accumulation de résidus et de la contamination de surface. Le débit est un facteur critique pour ce type d'application, impliquant la capacité de l'outil d'inspection à atteindre la vitesse de mesure requise pour la production en ligne et la capacité du fabricant à réaliser une inspection à 100 % sans sacrifier la qualité.
En Asie, le représentant agréé de VIEW, V Eye Precision, continue d'étendre le développement d'applications sur les marchés des BGA et des émetteurs-récepteurs optiques en Thaïlande, soutenant les clients en Thaïlande, à Singapour, aux Philippines et en Indonésie. Les travaux liés aux BGA se concentrent principalement sur la mesure de la hauteur des billes et de la coplanarité, des paramètres clés pour garantir des connexions électriques fiables et le rendement de l'assemblage en aval. Parallèlement, V Eye fait progresser les applications métrologiques pour la fabrication d'émetteurs-récepteurs optiques. Ces dispositifs intègrent des structures photoniques submicroniques, des interfaces de fibres optiques et un encapsulage de précision, avec des tolérances d'alignement extrêmement strictes, où même un décalage de ±1 µm peut affecter considérablement l'efficacité du couplage optique.
Les recherches de VIEW mentionnées ci-dessus visent à aider les clients à améliorer le débit, à augmenter le rendement et à réaliser une inspection fiable et évolutive dans les environnements d'encapsulation avancée. En permettant des mesures 3D précises et traçables, la métrologie VIEW transforme l'inspection d'une barrière de qualité passive en un outil d'ingénierie actif, permettant aux clients de détecter les dérives subtiles des processus et de réduire les reprises.
VIEW Micro Metrology est une entreprise fournissant des solutions de métrologie intégrées hautes performances et haute précision, conçues pour être utilisées sur ou à proximité des lignes de production, principalement dans les secteurs des semi-conducteurs, de l'électronique et du médical. Ses solutions utilisent des systèmes de métrologie optique sans contact avancés et des logiciels polyvalents pour réaliser des applications précises et à haut débit. Toutes les solutions sont livrées clés en main et bénéficient d'un support de conception collaborative et d'intégration de production.
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