fr.wedoany.com Rapport : Anritsu dévoilera ses dernières avancées dans le domaine des tests et mesures lors de l’IMS 2026, la principale conférence mondiale sur les radiofréquences et les micro-ondes. Sur le stand 17054, l’entreprise proposera des démonstrations en direct et des séances d’information technique, en mettant l’accent sur la complexité croissante des systèmes haute fréquence et à large bande. Lors des séminaires MicroApps d’Anritsu, l’application de l’intelligence artificielle dans les tests et mesures sera un sujet central.

Les instruments de test et de mesure exposés comprendront des analyseurs de réseaux, des analyseurs de spectre, des générateurs de signaux, des oscilloscopes, des wattmètres et des équipements de test automatisés. Sur le stand, les visiteurs pourront assister à des démonstrations en direct axées sur les défis de test de nouvelle génération, échanger directement avec des ingénieurs et des experts techniques, découvrir des solutions conçues pour les applications haute vitesse et haute fréquence, et prévisualiser les innovations à venir. Les ingénieurs d’Anritsu seront présents pour discuter avec les visiteurs des approches pratiques concernant les tests système, la précision des mesures et l’optimisation des performances.

Anritsu organisera également des présentations programmées chaque jour à 10h00 et 14h00 sur le stand, offrant un aperçu rapide des technologies émergentes et des scénarios d’application. De plus, un séminaire MicroApps intitulé « L’intelligence artificielle au service des instruments de test et de mesure de nouvelle génération » se tiendra le 11 juin de 11h44 à 11h59 au théâtre MicroApps du salon IMS, sous le numéro de session THMA8.

Ce séminaire se concentrera sur le rôle de l’intelligence artificielle dans les tests et mesures modernes, en montrant comment l’IA peut aider les ingénieurs à gérer des systèmes de plus en plus complexes. Il expliquera comment l’IA améliore la vitesse de mesure, soutient des méthodes de test plus évolutives et fournit des informations plus approfondies à partir d’ensembles de données vastes et complexes. Alors que la complexité des systèmes RF et sans cesse augmente, des méthodes de test plus efficaces et plus intelligentes deviennent indispensables.

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